تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش طیف سنجی جرمی یونهای ثانویه یا SIMS

تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش طیف سنجی جرمی یونهای ثانویه یا SIMS • • • • °°• تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش طیف سنجی جرمی یونهای ثانویه یا تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش طیف سنجی جرمی یونهای ثانویه یا › تحقیقدرموردتحقیق در مورد آنالیز مواد به روش طیف سنجی جرمی یونهای ثانویه › تحقیقدرمورد · طیف سنجی جرمی یکی از کاربردی ترین تکنیکهای آنالیز در شیمی است این روش جهت آنالیز عنصری، آنالیز سطح و جهت اهداف کمی و کیفی صورت میگیرد اجزای اصلی دستگاه شامل منبع یون، تجزیهگر جرمی و آشکارساز یونی میباشد › مقدمهایدرطیفطیف سنجی جرمی یون ثانویه › مقدمهایدرطیف · طیف سنجی جرم یون ثانویه یک تکنیک مورد استفاده در علم مواد و بررسی مواد حالت جامد است سیمس حساس‌ترین تکنیک تجزیه و تحلیل سطح است که قادر به تشخیص عناصر موجود در محدوده یک در میلیارد است در روش طیف‌نگاری جرمی یون ثانویه پرتوی از یون‌های اولیه که می‌تواند تا قطر حدود ۲۰ › طیفسنجیجرمیطیف سنجی جرمی — به زبان ساده – فرادرس مجله‌ › طیفسنجیجرمی دستگاه طیف سنجی جرمی روش طیف سنجی جرمی بحث در خصوص طیف جرمی بررسی ایزوتوپ‌ها در طیف سنجی جرمی الگوهای شکست در طیف سنجی جرمی بررسی گروه عاملی در طیف سنجی جرمی تفاوت بین طیف سنجی و طیف بینی برای اندازه‌گیری مشخصه‌های مولکول‌ها، به یک دستگاه طیف‌سنج جرمی نیاز داریم تا آن‌ها را به یون تبدیل کند در اثر این تبدیل، کنترل آن‌ها به کمک میدان‌های الکتریکی و مغناطیسیخارجی ساده‌تر می‌شود سه مورد از عملکردهای اساسی دستگاه طیف سنجی جرمی به موارد زیر مربوط می‌شود که عبارتند از منبع یونی نمونه‌ای کوچک بر اثر از دست دادن یک الکترون، ‌یونیزه خ در طیف سنجی جرمی نمونه‌ای را شامل اتم‌ها یا مولکول‌های مورد نظر، به دستگاه طیف‌سنج جرمی تزریق می‌کنند نمونه که به طور معمول در یک محلول آبییا آلی قرار دارد، به سرعت توسط یک گرمکن، تبخیر و بخار نمونه توسط الکترون‌هایی با انرژی بالا، بمباران می‌شود این الکترون‌ها انرژی کافی برای خارج کردن الکترون‌ها از نمونه را دارند و در اثر این اتفاق، یون‌هایی با «طیف جرمی» به طور معمول به صورت یک نمودار با خطوط عمودی نشان داده می‌شود هرکدام از این خطوط بیانگر یک یون با نسبت جرم به بار مشخصی است همچنین، طول این خطوط، فراوانی نسبی یون را نشان می‌دهد بیش‌ترین شدت فراوانی با عدد نشان داده و به عنوان «پیک پایه» ‌ شناخته می‌شود بیشتر یون‌هایی که در دستگاه طیف سنجی جرمی شناسایی در مثال قبل، مختصری در خصوص ایزوتوپ‌ها صحبت کردیم در ادامه، این مفهوم را با دقت بیش‌تری بیان می‌کنیم با توجه به این‌که طیف سنجی جرمی به شناسایی و جداسازی یون‌ها با جرم‌های متفاوت می‌پردازد، بمنظور شناسایی و جداسازی ایزوتوپ‌های مختلف یک عنصر از آن بهره می‌گیرند در تصویر زیر، طیف سنجی جرمی را برای ترکیبات شامل برم بررسی می‌کنیم از آن‌جایی که مولک شکست یون‌های مولکولی به مجموعه‌ای از یون‌های شکسته شده، نقاط قوت و ضعف متفاوتی دارد طبیعت این پیش‌ماده‌ها پاره‌ها به طور معمول نشان از ساختار مولکولی دارند اما اگر یون مولکولی، عمری کمتر از چند میکروثانیه داشته باشد، نمی‌توان آن‌را شناسایی کرد بدون داشتن پیک مرجع در یون مولکولی، تفسیر طیف جرمی بسیار دشوار خواهد بود خوش‌بختانه بیشتر ترکیبات آلی حضور یک گروه عاملی، بویژه گروه عاملی که شامل هترواتم‌های نیتروژن، اکسیژن، گوگردو … با الکترون‌های غیرپیوندی باشد، الگوهای شکست را به کلی تغییر می‌دهد این تاثیر به دلیل متمرکز شدن رادیکال کاتیون یون مولکولی بر روی هترواتم ذکر می‌شود با این وجود،‌ یونیزه کردن یک الکترون غیرپیوندی نسبت به الکترونی در پیوند کووالانسی، ساده‌تر خواهد بود با متمرکز شدن همانطور که در ابتدای متن اشاره شد، در مواردی، عبارات «طیف‌سنجی» و «طیف‌بینی» مشکلاتی را برای دانشجویان ایجاد می‌کند چراکه عده‌ای بر این عقیده‌اند که طیف‌سنجی و طیف‌بینی، دو مورد مجزا هستند البته در زبان فارسی، بیش‌تر از عبارت طیف‌سنجی استفاده می‌شود در حقیقت، طیف‌بینی اسپکتروسکوپی، دانشی نظری است و طیف‌سنجی، به اند › › تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش طیف سنجی جرمی یونهای ثانویه › › تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش طیف سنجی جرمی یونهای ثانویه یا تعداد صفحات زبان فارسی فرمت غیر قابل ویرایش فهرست دارد منابع و مآخذ دارد جدول و نمودار دارد عکس و تصویر دارد › تحقیقدرموردتحقیق در مورد آنالیز مواد به روش طیف سنجی جرمی یونهای ثانویه › تحقیقدرمورد · تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش طیف سنجی جرمی یونهای ثانویه یا تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش طیف سنجی جرمی یونهای ثانویه یا طیف سنجی جرمی یکی از کاربردی ترین تکنیکهای آنالیز در شیمی است این روش جهت آنالیز › › طیفسنجیجرمیطیف‌سنج جرمی › › طیفسنجیجرمی همانطور که در شکل۱ نشان داده شده است، یک دستگاه طیف‌سنج جرمی شامل ورودی نمونه، منبع یونیزاسیون، سیستم اندازه‌گیری و آشکارساز یونی تحت خلاء است در این روش ابتدا نمونه در یک محفظه خلا به یون تبدیل می‌شود و سپس در سیستم اندازه‌گیری بر اساس جرم تفکیک شده و آشکارسازی می‌شود › طیف‌نگاری جرمی یون ثانویه › · در روش طیف‌نگاری جرمی یون ثانویه پرتوی از یون‌های اولیه که می‌تواند تا قطر حدود نانومتر متمرکز شود، نمونه را روبش می‌کند و برای بیرون انداختن یون‌های ثانویه از نمونه به کار می‌رود جرم یون های ثانویه توسط یک طیف‌نگار جرمی تعیین می‌شود

---

تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش طیف سنجی جرمی یونهای ثانویه یا SIMS
دسته بندی : سایر رشته ها ...
تگ : دانشگاه صنعتی شریف,آنالیز مواد,طیف سنجی جرمی
تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش طیف سنجی جرمی یونهای ثانویه یا SIMS

طیف سنجی جرمی یکی از کاربردی ترین تکنیکهای آنالیز در شیمی است. این روش جهت آنالیز عنصری، آنالیز سطح و جهت اهداف کمی و کیفی صورت میگیرد. اجزای اصلی دستگاه شامل منبع یون، تجزیهگر جرمی و آشکارساز یونی میباشد. طراحی های مختلفی از این دستگاه با کارآیی های متنوع ارائه شده است.این روش به طور گسترده ای تقریبا برای شناسایی تمام عناصر موجود در جدول تناوبی کاربرد دارد. اساسا هر اتم یا مولکولی که توانایی یونیزه شدن و انتقال به فاز گازی را داشته باشد، میتواند توسط این تکنیک مورد تجزیه قرار گیرد. 
 

• ارائه شده در دانشگاه صنعتی شریف 
• قابل ارائه برای رشته مهندسی مواد، رشته فیزیک، رشته شیمی و نانومواد 
• قابل ارائه برای مقطع کارشناسی و کارشناسی ارشد 
• قابل ارائه برای درس روش های آنالیز مواد

download - دانلود