تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش فلورسانس پرتو ایکس یا XRF

تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش فلورسانس پرتو ایکس یا XRF • • • • °°• تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش فلورسانس پرتو ایکس یا تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش فلورسانس پرتو ایکس یا طیف بینی فلورسانس پرتو ایکس طیف بینی فلورسانس پرتو ایکس با نام متداول ، یک تکنیک آنالیز عنصری ست که کاربرد گسترده ای در تحقیقات و صنعت دارد اساس روش این است که اتم های ویژه، وقتی با یک منبع پرقدرت خارجی تهییج می شوند، فوتون های ایکس با طول موج یا انرژی های مشخصه ای نشر می کنند طیف بینی فلورسانس پرتو ایکس یا مبانی دستگاهوری و نکات › تحقیقدرموردتحقیق در مورد آنالیز مواد به روش فلورسانس پرتو ایکس یا › تحقیقدرمورد · تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش فلورسانس پرتو ایکس یا ارائه شده در دانشگاه صنعتی شریف قابل ارائه برای رشته های مهندسی مواد، نانومواد و فیزیک مقطع کارشناسی و کارشناسی ارشد › دانلودرایگانتحقیقدانلود و دریافت تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش فلورسانس › دانلودرایگانتحقیق این روش، به ویژه به خاطر سرعت زیاد در شناسایی عنصری، برای برخی از صنایع ضروری است طیف سنج فلورسانس پرتو ایکس، وسیله ای مستقل برای آنالیز محتوای عنصری است این طیف سنج از تابش پرتوی ایکس برای تحریک انتشار پرتوهای ایکس مشخصه از اتم های نمونه استفاده می کند › تحقیقدرموردتحقیق در مورد آنالیز مواد به روش فلورسانس پرتو ایکس یا › تحقیقدرمورد · تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش فلورسانس پرتو ایکس یا تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش فلورسانس پرتو ایکس یا روش فلورسانس پرتوی ایکس یا یا طیف سنجی پرتوی ایکس یکی از روشهای آنالیز عنصری است که امروزه از آن به طور › طیفسنجیفلورسانسآنالیز تست قیمت تحلیل طیف سنجی › طیفسنجیفلورسانس آنالیز طیف سنجی فوئورسانس اشعه ایکس چیست؟ اساس روش آنالیز اجزاء دستگاه روش طیف سنجی فلورسانس پرتو ایکس آنالیز عنصری انواع دستگاه های طیف سنجی فلورسانس پرتو ایکس تفاوت آنالیز و قابلیت های آنالیز محدودیت های آنالیز کاربردهای آنالیز روش طیف سنجی فلورسانس پرتو ایکس یا آنالیز یکی از روش های آنالیز عنصری در شناسایی و آنالیز مواد محسوب می شود که به دلیل داشتن سرعت زیاد در فرآیند شناسایی عناصر، به طور گسترده در مراکز صنعتی و پژوهشی به کار برده می شود این روش، سریع، دقیق و غیر مخرباست و به همین دلیل کاربردهای آن بسیار زیاد و گسترده است در روش طیف سنجی فلورسانس پرتو ایکس نیز همانند روش پراش اشعه ایکس پرتو ایکس از یک لامپ تولید اشعه ایکس به نمونه مجهول تابیده می شود بخشی از این پرتو های ایکس تابیده شده از ماده عبور می کنند بخشی از پرتوها در اثر برخورد با الکترون های اتم ماده، جذب می شوند و بخشی نیز باعث جابه‌جایی خروج الکترون ها از مدار خود می شوند به این برخورد، برخو ۱٫ لامپ تولید پرتو ایکس پرتوهای ایکس را می‌توان به عنوان امواج الکترومغناطیس یا طول موج مختص خود، یا پرتوهای فوتون‌ها با انرژی های مخصوص به خود در نظر گرفت در دستگاه‌های مختلف روش طیف سنجی فلورسانس پرتو ایکس از لامپ های گوناگونی استفاده می شود که در توان استفاده شده، محل پنجره برلیمی، و نوع انجام سرمایش سیستم با هم تفاوت دارند وظیفه لامپ تولید پرتو ایکس، ایجاد پرتوی با شدت زیاد است تا بتواند تمام عناصر موجود در نمونه را برانگیخته کند طول موج پرتو خروجی از لامپ کمتر از لبه جذب عناصر موجود در نمونه باشد ۲٫ بلور آنالیز کننده از بلورهای آنالیز کننده به منظور شناسایی عناصر استفاده می شود که با تغییر عدد اتمی عناصری که باید شناسایی شوند، نوع و جنس بلور آنالیز کننده تغییر می‌کند به طور مثال پرکاربردترین بلور آنالیز کننده، بلور فلورید لیتیم است که برای شناسایی عناصر پتاسیم تا اورانیوم به کار می‌رود ۳٫ ساخت نمونه نمونه موردنظر برای انجام آنالیز طیف سنجی پرتو ایکس ، یک استوانه با قطر ۳ سانتی‌متر و ضخامت حدود ۰٫۵ میلیمتر استو در یک جا نمونه ای فلزی به نحوی در دستگاه قرار می گیرد که پرتو ایکس از زیر به آن بتابد پرتو ایکس تولید شده از لامپ به نمونه برخورد کرده، باعث به وجود آمدن پرتو ایکس مشخصه می‌شود و توسط بلور آنالیز کننده طول موج های مربوط به هر یک از عناصر، تفکیک می‌شود ، به آشکارساز رسیده و در نهایت منجر به رسم طیف مورد نظر ما می‌شود آنچه دستگاه به‌عنوان طیف رسم می‌کند، نشان دهنده تغییر شدت پرتو بر حسب انرژی آن است در دستگاه طیف سنجی پرتو ایک سیستم های طیف سنجی در آنالیز بر دو دسته تقسیم می شوند تفکیک طول موج در این نوع دستگاه‌ها پرتو ایکس خروجی پیش از ورود به آشکارساز توسط یک بلور تفکیک می‌شود در این نوع دستگاه ها پرتو ایکس خروجی از نمونه بدون آنکه توسط بلور آنالیز کننده تفکیک شود وارد آشکارساز می‌شود آنالیز روشی برای تعیین فازها و ساختار کریستالی نمونه ها محسوب می شود بنابراین با استفاده از این روش می توان مواردی مثل فرمول شیمیایی ترکیبات نمونه، درصد بلورینگی ساختار و تنش های پسماند ساختار را تعیین کرد به عبارتی دیگر می توان گفت که آنالیز یک روش آنالیز کیفیاست اما آنالیز یک روش آنالیز کمی محسوب می شود در اصل، از این روش برای شنا قابلیت اندازه گیری کمی و کیفی عناصر آنالیز عناصر نادر خاکی قابلیت آنالیز چندین نمونه به صورت همزمان قابلیت اعلام نتایج به صورت اکسیدی وجود مشکل در اندازه گیری عناصر سبک عدم توانایی اندازه گیری ایزوتوپ های عناصر عدم توانایی اندازه گیری ظرفیت های یک عنصر مثل روش طیف سنجی فلورسانس پرتو ایکس با توجه به سریع انجام شدن آن و در عین حال دقت بالا و استقلال از وابستگی نتیجه به توانایی شخص آنالیز کننده در بسیاری از موارد مخصوصا در صنایعی مانند سیمان و فولاد جایگزین روش‌های آنالیز شیمیایی شده است در این صنایع تغییر در مقدار عناصر موجود در نمونه، در گستره کوچک و مشخصی بوده و همچنین نیازمند سرعت زیاد آنالیز ب › تعریف آنالیز یا طیف نگاری فلورسانس اشعه ایکس › آنالیز یا فلورسانس اشعه ایکس یک روش تحلیلی است که می تواند برای تعیین ترکیب شیمیایی طیف گسترده ای از انواع نمونه از جمله مواد جامد، مایعات، مواد آبکی و پودرهای سست استفاده شود آنالیز برای تعیین ضخامت و ترکیب لایه ها و روکش ها نیز استفاده می شود › › آنالیز یا طیف‌نگاری فلورسانس اشعه ایکس چیست؟ › › آنالیز یا فلورسانس اشعه ایکس یک روش تحلیلی است که می تواند برای تعیین ترکیب شیمیایی طیف گسترده ای از انواع نمونه از جمله مواد جامد ، مایعات ، مواد آبکی و پودرهای سست استفاده شود آنالیز برای تعیین ضخامت و ترکیب لایه ها و روکش ها نیز استفاده می شود

---

تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش فلورسانس پرتو ایکس یا XRF
دسته بندی : سایر رشته ها ...
تگ : فلورسانس پرتوی ایکس,دانشگاه صنعتی شریف,آنالیز مواد
تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش فلورسانس پرتو ایکس یا XRF

روش فلورسانس پرتوی ایکس یا XRFیا طیف سنجی پرتوی ایکس یکی از روشهای آنالیز عنصری است که امروزه از آن به طور وسیعی در صنعت و مراکز پژوهشی استفاده می شود. این روش، به ویژه به خاطر سرعت زیاد در شناسایی عنصری، برای برخی از صنایع ضروری است. طیف سنج فلورسانس پرتو ایکس، وسیله ای مستقل برای آنالیز محتوای عنصری است. این طیف سنج از تابش پرتوی ایکس برای تحریک انتشار پرتوهای ایکس مشخصه از اتم های نمونه استفاده می کند. عبارت فلورسانس برای ایجاد تمایز بین پرتوی ایکس ثانویه ساطع شده از اتم های نمونه و پرتوهای ایکس اولیه که به نمونه تابیده، استفاده میشود.

 

• ارائه شده در دانشگاه صنعتی شریف 
• قابل ارائه برای رشته های مهندسی مواد، نانومواد و فیزیک مقطع کارشناسی و کارشناسی ارشد 
• قابل ارائه برای درس روش های آنالیز مواد

download - دانلود